新技術一次性查出胚胎內基因變異
科技日報訊 (記者劉霞)瑞典卡羅林斯卡學院和荷蘭馬斯特里赫特大學科學家攜手,成功開發(fā)出一種新檢測技術,能在單次檢測中精準篩查出胚胎內所有已知的基因變異。與現(xiàn)有檢測方法相比,該技術更準確快捷,為那些有遺傳疾病的父母誕下健康寶寶帶來可能。相關論文發(fā)表于最近的《自然·通訊》雜志。
有些準父母可能誕下罹患嚴重遺傳病的嬰兒,或因染色體異常而反復流產(chǎn)。因此,他們會選擇進行植入前基因檢測(PGT)。PGT會篩查胚胎內已知的基因異常,醫(yī)生隨后將無異常的胚胎植入母親子宮內。但現(xiàn)有技術只能檢查胚胎遺傳信息的特定部分,而基因變異可能發(fā)生在不同地方。因此,準父母們需要接受不同檢測,以篩查不同類型的基因變異。
研究人員新開發(fā)出的檢測技術能一次分析胚胎的整個基因組,包括所有基因和染色體,更快、更有效地檢測出已知的基因變異。這一創(chuàng)新不僅極大提高了基因檢測的準確性和效率,也意味著無需為每種疾病開發(fā)測試方法。而且,新技術還能檢測出線粒體DNA中的特定基因變異。
研究團隊表示,除了能更完整地揭示整個胚胎的基因異常外,新技術甚至可以揭示遺傳物質內最小的錯誤,準確率高達99%以上。